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方块电阻测试仪仪器品牌
日本三菱 国产 安柏
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MCP-T700高精密阻抗分析仪 MCP-T700高精密阻抗分析仪 MCP-T700高精密阻抗分析仪 替代老型号MCP-T610阻抗分析仪,MCP-T610己停产 基于4探针测试原理可以精准而快速的测试材料的低电阻特性;4-pin测试原理可以有效消除探头接触样品的接触电阻及导线的电阻; MCP系列镀金弹簧探针针距恒定,且与测试样品接触的压力恒定。
品牌:日本三菱
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪Model-B 方块电阻测试仪Model-B 方块电阻测试仪Model-B 适用测量范围 ·金属、合金类薄膜;屏蔽膜等 ·测量范围:电阻率(Ω.cm): 10~1K 电导率(S.cm-1): 0.001~0.1 方块电阻(Ω/□):10~50K 电阻(Ω): 100~10K
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪ST-21 方块电阻测试仪ST-21 方块电阻测试仪ST-21 是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
AT516 直流电阻测试仪 AT516 直流电阻测试仪 AT516是全新设计的高精度、高稳定性的直流电阻测试仪,采用高性能ARM微处理器控制。真彩3.5寸液晶中英文显示, 操作更方便。适用于测量各种高、中、低值电阻器,各种开关接触电阻、接插件接触电阻、继电器线包和触点电阻、变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻、焊点接触电阻导线电阻、车、船、飞机的金属铆接电阻、印制版线条和孔化电阻、金属探伤等。
品牌:安柏
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
AT510 直流电阻测试仪 AT510 直流电阻测试仪 AT510是一种高精度宽量程、采用高性能微处理器控制的电阻测试仪。可以测试1μΩ~3MΩ的电阻,最大显示30,000数。最高测试速度60次/秒,测试速度在15次/秒下,依然可以保证0.05%的准确度,并且读数跳动可控制在3字以下。标配温度补偿功能,可对米电阻进行精确测试。可选耳机讯响接口用于流水线安静测试,互不干扰。三种电流模式可满足各种苛刻的电阻测试要求。独有的三种电流测试模式(大电流、小电流、脉冲测试模式)和标配的温度补偿功能可以适应不同要求的测试。适用于变压器及电感线圈铜阻、继电器接触电阻、开关、接插件接触电阻、导线电阻、元件焊点接触电阻、印制板线条及焊孔电阻、金属探伤等。应用于自动化设备,可使用RS232C及HANDLER接口输出GD/NG信号,以提高生产自动化测试能力!
品牌:安柏
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪专用笔形探头方块电阻测试仪探针 方块电阻测试仪专用笔形探头方块电阻测试仪探针 方块电阻测试仪专用笔形探头 主要配置: USB接口 主要尺寸: 线长1200mm 备 注: 此超小型专用笔形探头为本公司专利产品,性价比极其高
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪ST-21H 方块电阻测试仪ST-21H 方块电阻测试仪ST-21H 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
AT6830 绝缘电阻测试仪 AT6830 绝缘电阻测试仪 AT6830是采用高性能未处理器控制的绝缘电阻测试仪。具有预充电电源和独立的测试电源,六量程测试,使绝缘电阻测量范围可达10KΩ-1TΩ,最大显示位数9999数。测试速度可达55次/秒,超高速测试为自动化生产提供了最佳方案。
品牌:安柏
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪GZXY-5C 方块电阻测试仪GZXY-5C 方块电阻测试仪GZXY-5C ·测量范围:0.01~500.0Ω/□(或Ω.cm); ·量程自动转换(Ω∕□):0.01~100.00;0.1~500.0; ·PC软件版本:V5C-11.1.1; ·测量误差:≤±2%+3(满量程); ·测量时间:< 2s每次
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪GZXY-4 方块电阻测试仪GZXY-4 方块电阻测试仪GZXY-4 ·测量范围:0.1~19999Ω/□(或Ω.cm); ·量程自动转换(Ω∕□):0.1~1999.9;1~19999; ·PC软件版本:V5C-11.1.1; ·测量误差:≤±2%+3字; ·测量时间:< 2s每次;
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
低阻抗分析仪MCP-T370 低阻抗分析仪MCP-T370 低阻抗分析仪MCP-T370 LORESTA-AX手持单元可配置多种探头测量低阻抗 应用于低阻抗测量范围,带4针探头 测量范围:10-2 ~ 106 一键操作,测量精确稳定 专利的4针探头技术 外接USB 便于更换电池组
品牌:日本三菱
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪GZXY-3 方块电阻测试仪GZXY-3 方块电阻测试仪GZXY-3 ·测量范围:0.01~1999Ω/□(或Ω.cm); ·量程自动转换(Ω∕□):0.01~199.99;0.1~1999; ·PC软件版本:V5C-11.1.1; ·测量误差:≤±2%+3字; ·测量时间:< 2s每次;
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
液晶高性能高阻率计MCP-HT800 液晶高性能高阻率计MCP-HT800 液晶高性能高阻率计MCP-HT800 三菱新款Hiresta-UX精密高阻率分析仪MCP-HT800 替代Hiresta-UP三菱高阻率计 MCP-HT450 新特点:7.5英寸触屏操作 量程范围扩大至103 -1014 ohm
品牌:日本三菱
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪Model-Y 方块电阻测试仪Model-Y 方块电阻测试仪Model-Y 适用测量范围 ·金属、合金类薄膜;屏蔽膜等 ·测量范围:电阻率(Ω.cm): 0.001~0.1 电导率(S.cm-1): 10~1K 方块电阻(Ω/□):0.001~0.5 电阻(Ω): 0.001~0.1;
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪GZXY-5B 方块电阻测试仪GZXY-5B 方块电阻测试仪GZXY-5B ·测量范围:0.001~50.00Ω/□(或Ω.cm); ·量程自动转换(Ω∕□):0.001~10.000;0.01~50.00; ·PC软件版本:V5B-11.1.1; ·测量误差:≤±2%+3(满量程); ·测量时间:< 2s每次;
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
AT518L 手持直流低电阻测试仪 AT518L 手持直流低电阻测试仪 AT518L手持直流低电阻测试仪是一种高精度宽量程,采用高性能32位ARM微处理器控制的便携手持仪器,内置大容量锂电池在任何场合可长时间实现对无源元件进行精确而便捷的测量 。AT518L配置3.5"高清液晶显示屏,大字体显示更方便您读取数据。 仪器可以测试10μΩ~200KΩ的电阻, 最大显示数20000数。它独有的电流测试模式可以适应不同要求的测试。并配备Mini-USB通讯接口,用于远程控制和数据采集与分析。 AT518L手持低电阻测试仪可测量各种高、中、低值电阻器;AT518L手持低电阻测试仪广泛应用于各种开关接触电阻;接插件接插电阻;继电器线包和触电电阻;变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻;导线电阻;车、船、飞机的金属铆接电阻‘印制板线条和孔化电阻等。
品牌:安柏
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
HPS2526精密方块电阻测试仪 HPS2526精密方块电阻测试仪 HPS2526精密方块电阻测试仪可方便地测量塑料薄膜、金属镀层方块电阻(每平方厘米电阻量值)的仪器。均匀金属薄层的厚度可用单位面积所体现的电阻表征,由于方阻与镀层厚度成反比,也就可以由方阻计算出镀层厚度。 仪器配有专用结构设计的四探针探头和面测夹具,使得测试时压力恒定,接触可靠,可更详细地分析薄膜金属化的质量。
品牌:国产
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
低阻抗分析仪MCP-T370 低阻抗分析仪MCP-T370 低阻抗分析仪MCP-T370 LORESTA-AX手持单元可配置多种探头测量低阻抗 应用于低阻抗测量范围,带4针探头 测量范围:10-2 ~ 106 一键操作,测量精确稳定 专利的4针探头技术 外接USB 便于更换电池组
品牌:日本三菱
类别:电子电工 > 方块电阻测试仪
方块电阻测试仪ST-21 方块电阻测试仪ST-21 方块电阻测试仪ST-21 是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
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方块电阻测试仪ST-21L 方块电阻测试仪ST-21L 方块电阻测试仪ST-21L 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
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